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CRDR分辨率測(cè)試卡

描述:CRDR分辨率測(cè)試卡
CRDR射線分辨率測(cè)試卡、CT性能質(zhì)控模體、X射線科全景質(zhì)控模體、低分質(zhì)控模體、放射治療質(zhì)控模體、SPECT檢測(cè)模體和磁共振彌撒檢測(cè)模體等影像診斷質(zhì)控設(shè)備和射線機(jī)安檢機(jī)的質(zhì)控檢測(cè)體模和裝置等。
產(chǎn)品介紹:設(shè)備概述射線分辨率測(cè)試卡是一種專門用于評(píng)估X射線成像

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    產(chǎn)品型號(hào):
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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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    更新時(shí)間:2024-07-05
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詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details
品牌京南雙玉產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)

 CRDR分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品名稱:CRDR射線分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào):20240704-02

產(chǎn)品廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,生產(chǎn)加工:CRDR射線分辨率測(cè)試卡、CT性能質(zhì)控模體、X射線科全景質(zhì)控模體、低分質(zhì)控模體、放射治療質(zhì)控模體、SPECT檢測(cè)模體和磁共振彌撒檢測(cè)模體等影像診斷質(zhì)控設(shè)備和射線機(jī)安檢機(jī)的質(zhì)控檢測(cè)體模和裝置等。

產(chǎn)品介紹:設(shè)備概述射線分辨率測(cè)試卡是一種專門用于評(píng)估X射線成像設(shè)備性能的檢測(cè)工具。這種測(cè)試卡通常由一系列不同線對(duì)組成的圖案構(gòu)成,通過這些圖案可以確定設(shè)備能夠清晰地呈現(xiàn)細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。射線分辨率測(cè)試卡的存在,對(duì)于確保新設(shè)備投入使用前或現(xiàn)有設(shè)備維護(hù)后的性能達(dá)標(biāo),以及定期的質(zhì)量程序,都起到了重要的作用。

分辨率測(cè)試卡的類型

目前市場(chǎng)上有多種不同類型的射線分辨率測(cè)試卡,它們?cè)诜直媛史秶豌U當(dāng)量等方面有所不同。

38X射線分辨率測(cè)試卡 38X射線分辨率測(cè)試卡是由廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)的一種產(chǎn)品,它的分辨率范圍是0.65.0lp/mm,能夠滿足一定的成像設(shè)備檢測(cè)需求。此外,這種測(cè)試卡還具備質(zhì)保一年和快遞運(yùn)輸?shù)确?/span>

產(chǎn)品編號(hào):20240704-02


 

 

 


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